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1
Crecimiento epitaxial de grafeno en SiC(0001) para su aplicación como resistencia estándar
por
Real, Mariano
,
Tonina, A.
,
Elmquist, Randolph E.
,
Lass, Eric A.
,
Liu, Fan-Hung
,
Soons, Johannes A.
,
INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR
,
National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg. New York, US
,
TecnoINTI 2013
Publicado 2013
Aportado por:
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
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Graphene epitaxial growth on SiC(0001) for resistance standards
por
Real, Mariano
,
Lass, Eric A.
,
Liu, Fan-Hung
,
Shen, Tian
,
Jones, George R.
,
Soons, Johannes A.
,
Newell, David B.
,
Davydov, Albert V.
,
Elmquist, Randolph E.
,
INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR
,
Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. New York, US
Publicado 2013
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Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
2
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Artículo
1
Objeto de conferencia
1
Autor
Elmquist, Randolph E.
2
INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR
2
Lass, Eric A.
2
Liu, Fan-Hung
Real, Mariano
2
Soons, Johannes A.
Davydov, Albert V.
1
Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. New York, US
1
Jones, George R.
1
National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg. New York, US
1
Newell, David B.
1
Shen, Tian
1
TecnoINTI 2013
1
Tonina, A.
1
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