Mostrando 1 - 1 Resultados de 1 Para Buscar 'Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. New York, US' Saltar al contenido
BDU3
  • Inicio
  • Su cuenta
  • Salir
  • Entrar
Avanzado
  • Autor
  • Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. New York, US
Mostrando 1 - 1 Resultados de 1 Para Buscar 'Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. New York, US', tiempo de consulta: 0.73s Limitar resultados
  1. 1
    Graphene epitaxial growth on SiC(0001) for resistance standards
    por Real, Mariano, Lass, Eric A., Liu, Fan-Hung, Shen, Tian, Jones, George R., Soons, Johannes A., Newell, David B., Davydov, Albert V., Elmquist, Randolph E., INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. New York, US
    Publicado 2013
    Aportado por: Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
    Enlace del recurso
    article
    Agregar a favoritos
    Guardado en:
Herramientas de búsqueda: RSS — Enviar por Correo electrónico esta Búsqueda

Opciones de búsqueda

  • Historial de Búsqueda
  • Búsqueda Avanzada

Buscar Más

  • Revisar el Catálogo
  • Explorar canales
  • Tour (beta)

¿Necesita Ayuda?

  • Consejos de búsqueda
  • Preguntas Frecuentes
  • Contacte al adminstrador
Cargando...