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2por Pasquini, L.A., Millet, V., Hoyos, H.C., Giannoni, J.P., Croci, D.O., Marder, M., Liu, F.T., Rabinovich, G.A., Pasquini, J.M.
Publicado 2011Artículo publishedVersion -
3por Pasquini, L.A., Millet, V., Hoyos, H.C., Giannoni, J.P., Croci, D.O., Marder, M., Liu, F.T., Rabinovich, G.A., Pasquini, J.M.
Publicado 2011Artículo publishedVersion -
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6por Real, M.A., Tonina, A., Elmquist, R.E., Lass, E.A., Liu, F.H., Soons, J., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, National Institute of Standards and Tecgnology. NIST. Maryland, AR, TecnoINTI edición 2013. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11
Publicado 2013article -
7por Real, M.A., Tonina, A., Elmquist, R.E., Lass, E.A., Liu, F.H., Soons, J., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, National Institute of Standards and Tecgnology. NIST. Maryland, AR, TecnoINTI edición 2013. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11
Publicado 2013article