Estudio de singularidades de fase con aplicaciones a la metrología

La temática presentada en este documento de tesis para optar al grado de Doctor, se desarrolla de manera tal que siga la línea de pensamiento en la que fueron estudiados los diferentes temas, sintetizando el estudio realizado de las singularidades de fase y sus propiedades, cuando son empleadas en t...

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Sierra Sosa, Daniel Esteban
Otros Autores: Bolognini, Néstor Alberto
Formato: Tesis Tesis de doctorado
Lenguaje:Español
Publicado: 2014
Materias:
Ciencias Exactas
Física
metrología
Óptica y Fotónica
vórtices ópticos
Acceso en línea:http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/41104
https://doi.org/10.35537/10915/41104
Aporte de:
SEDICI (UNLP) de Universidad Nacional de La Plata
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Estudio de singularidades de fase con aplicaciones a la metrología
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description La temática presentada en este documento de tesis para optar al grado de Doctor, se desarrolla de manera tal que siga la línea de pensamiento en la que fueron estudiados los diferentes temas, sintetizando el estudio realizado de las singularidades de fase y sus propiedades, cuando son empleadas en técnicas de metrología de vórtices ópticos. Se estudian las técnicas convencionales de la metrología de vórtices para la síntesis de campos de speckle o similares al speckle, incluyendo el efecto natural de la decorrelación de los mismos para definir los rangos de aplicabilidad de estas técnicas. Posteriormente, se propone una manera alternativa de análisis para medir desplazamientos rígidos en el plano, basada en el análisis de Fourier de las singularidades de fase como marcadores de los campos de speckle, logrando expandir el rango de aplicabilidad de las técnicas de metrología de vórtices ópticos para este tipo de desplazamientos. Finalmente, se propone una manera alternativa para la generación de campos complejos mediante el uso de una nueva transformada integral lineal, generando así una herramienta matemática nueva para la síntesis de registros de intensidad, lo que permite en concreto una mejor síntesis de registros de patrones modulados con altas frecuencias. Dicha herramienta no limita su uso al ámbito de la metrología de vórtices ópticos, sino que puede ser de utilidad en diferentes aplicaciones propias del procesamiento opto-digital de la información.
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