Noninvasive measurement of dielectric properties in layered media: A System Identification approach.
Guardado en:
| Autor Corporativo: | Grupo de Aplicaciones Matemáticas y Estadísticas de la Facultad de Ingeniería |
|---|---|
| Otros Autores: | Irastorza, Ramiro M., Mayosky, M., Vericat, Fernando |
| Formato: | Desconocido |
| Acceso en línea: | http://www.researchgate.net/publication/229374325_Noninvasive_measurement_of_dielectric_properties_in_layered_structure_A_system_identification_approach |
| Aporte de: | Registro referencial: Solicitar el recurso aquí |
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