Noninvasive measurement of dielectric properties in layered media: A System Identification approach.

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Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo:	Grupo de Aplicaciones Matemáticas y Estadísticas de la Facultad de Ingeniería
Otros Autores:	Irastorza, Ramiro M., Mayosky, M., Vericat, Fernando
Formato:	Desconocido
Acceso en línea:	http://www.researchgate.net/publication/229374325_Noninvasive_measurement_of_dielectric_properties_in_layered_structure_A_system_identification_approach
Aporte de:	Registro referencial: Solicitar el recurso aquí Bibliotecas (ING-UNLP) de Universidad Nacional de La Plata


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