SCANNING electron microscopy and X-Ray microanalysis /

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Goldstein, Joseph I., Newbury, Dale E.
Formato: Libro
Lenguaje:Inglés
Publicado: New York : Springer, 2003.
Edición:3rd ed.
Materias:
Aporte de:Registro referencial: Solicitar el recurso aquí
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