Instituto Nacional de Estándares y Tecnología
El Instituto Nacional de Estándares y Tecnología (NIST por sus siglas en inglés, ''National Institute of Standards and Technology''), llamada entre 1901 y 1988 Oficina Nacional de Normas (NBS por sus siglas del inglés ''National Bureau of Standards''), es una agencia de la Administración de Tecnología del Departamento de Comercio de los Estados Unidos. La misión de este instituto es promover la innovación y la competencia industrial en Estados Unidos mediante avances en metrología, normas y tecnología de forma que mejoren la estabilidad económica.Como parte de esta misión, los científicos e ingenieros del NIST continuamente refinan la ciencia de la medición (metrología) creando una ingeniería precisa y una manufacturación requerida para la mayoría de los avances tecnológicos actuales. También están directamente involucrados en el desarrollo y pruebas de normas hechos por el sector privado y agencias de gobierno. El NIST fue originalmente llamado Oficina Nacional de Normas (NBS por sus siglas en inglés), un nombre que tuvo desde 1901 hasta 1988. El progreso e innovación tecnológica de Estados Unidos dependen de las habilidades del NIST, especialmente si hablamos de cuatro áreas: biotecnología, nanotecnología, tecnologías de la información y fabricación avanzada.
El NIST tuvo un presupuesto del año fiscal 2006 de aproximadamente 930 millones de dólares, empleó cerca de 2800 científicos, ingenieros, técnicos y personal de administración y soporte. Cerca de 1800 asociados al NIST (investigadores e ingenieros invitados de compañías estadounidenses y extranjeras) complementaban el personal. Además de 1400 especialistas en manufactura como socios y cerca de 350 centros afiliados en todo el país.
En representación de Estados Unidos, participa en el Sistema Interamericano de Metrología.
El Marco de Ciberseguridad del NIST se estableció para gestionar los riesgos de ciberseguridad dentro de las organizaciones. Está diseñado deliberadamente para ser expansivo y adaptable. Esencialmente, ofrece una perspectiva de alto nivel sobre cómo las organizaciones deberían abordar la gestión de riesgos de ciberseguridad, permitiendo a las empresas individuales determinar los detalles de la implementación del marco. proporcionado por Wikipedia
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5por Real, Mariano, Shen, Tian, Jones, George R., Elmquist, Randolph E., Soons, Johannes A., Davydov, Albert V., National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg, US, INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Conference on precision electromagnetic measurements
Publicado 2012conferenceObject -
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7por Bierzychudek, Marcos E., Hernadez-Marquez, F. L., Jones, G. R. Jr., Elmquist, Randolf E., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Centro Nacional de Metrología. Querétaro, MX, National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg, US
Publicado 2014article -
8por Wong, George, Wu, Lixue, National Institute of Standards and Technology. NIST, Estados Unidos, Centro Nacional de Metrología. CENAM, México, Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMetro, Brasil, Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI, Argentina, Institute for National Measurement Standards. INMS, Canadá
Publicado 2007article -
9por Wong, George, Wu, Lixue, National Institute of Standards and Technology. NIST, Estados Unidos, Centro Nacional de Metrología. CENAM, México, Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMetro, Brasil, Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI, Argentina, Institute for National Measurement Standards. INMS, Canadá
Publicado 2007article -
10por Elmquist, Randolph E., Shen, Tian, Real, Mariano, Calizo, Irene G., Bush, Brian G., He, Guowei, Yang, Yanfei, Klimov, Nikolai, Newell, David B., Hight-Walker, Angela R., Feenstra, Randall M., National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg, US, INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Carnegie-Mellon University. Pittsburgh, US, Georgetown University. Washington, US, Conference on precision electromagnetic measurements
Publicado 2012conferenceObject -
11por Decker, J.E., Altschuler, J., Beladie, H., Malinovsky, I., Prieto, E., Stoup, J., Titov, A., Villesid, M., Pekelesky, J.R., Dimensional Metrology Program, Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires, AR, Instituto Nacional de Metrología, Normalizaçâo e Qualidade Industrial. INMETRO. Rio de Janeiro, BR, Centro Español de Metrología. CEM. Madrid, ES, National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg, US, Centro Nacional de Metrología. CENAM. Querétaro, MX, National Research Council. NRC. Ottawa, CA
Publicado 2006report -
12por Colín, C., Viliesid, M., Chaudhary, K. P., Decker, J., Dvořáček, F., Franca, R., Ilieff, S., Rodríguez, J., Stoup, J., Centro Nacional de Metrología. CENAM. Querétaro, MX, National Physical Laboratory INDIA. NPL. New Delhi, IN, National Research Council Canada. NRC. Ottawa, CA, Czech Metrology Institute. CMI. Brno, CZ, National Institute of Metrology Standardization and Industrial Quality. INMETRO. Duque de Caxias, BR, INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Centro Español de Metrología. CEM. Madrid, ES, National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg, US
Publicado 2012report -
13por Di Lillo, Lucas, Yasuda, Eliana, Lipe, Thomas, Campos, Sara, Spaggiari, Alfredo, Slomovitz, Daniel, Faverio, Carlos, Filipski, Piotr, Vasconcellos, Renata, Geronymo, Gean, Afonso, Renato, Halawa, Mamdouh, INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg, US, Centro Nacional de Metrología. CENAM. Querétaro, MX, Administración Nacional de Usinas y Transmisiones Eléctricas. UTE. Montevideo, UY, National Research Council. NRC. Washington, US, Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMETRO. Rio de Janeiro, BR, National Institute for Standards. NIS. Gizah, EG, Conference on Precision Electromagnetic Measurements CPEM 2014 (pp. 268-269)
Publicado 2014conferenceObject -
14por Lombardi, Michael A., Novick, Andrew N., López R., J. Mauricio, Jiménez, Francisco, López, Eduardo, Boulanger, Jean-Simon, Pelletier, Raymond, Carvalho, Ricardo J. de, Solís, Raúl, Sánchez, Harold, Quevedo, Carlos Andrés, Pascoe, Gregory, Pérez, Daniel, Bances, Eduardo, Trigo, Leonardo, Masi, Víctor, Postigo, Henry, Questelles, Anthony, Gittens, Anselm, National Institute of Standards and Technology. NIST. Boulder, CO, US, Centro Nacional de Metrología. CENAM. Querétaro, MX, National Research Council. NRC. Ottawa, CA, National Observatory. ONRJ. Río de Janeiro, BR, Centro Nacional de Metrología de Panamá. CENAMEP. Panama City, PA, Instituto Costarricense de Electricidad. ICE. San José, CR, Superintendencia de Industria y Comercio. SIC. Bogotá, CO, Bureau of Standards Jamaica. BSJ. Kingston, JM, Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Laboratorio Nacional de Metrología. LNM. Guatemala City, GT, Administracion Nacional de Usinas y Trasmisiones Eléctricas . UTE. Montevideo, UY, Instituto Nacional de Tecnología Normalización y Metrología. INTN. Asunción, PY, Servicio Nacional de Metrología. SNM, INDECOPI. Lima, PE, Trinidad and Tobago Bureau of Standards. TTBS, TT, Saint Lucia Bureau of Standard. SLBS. Castries, LC
Publicado 2011article -
15por Pratt, Kenneth W., Ortiz-Aparicio, Jose Luis, Matehuala-Sanchez, Francisco Javier, Pawlina, Monika, Kozłowski, Władysław, Borges, Paulo P., Silva, Wiler B. da, Borinsky, Mónica B., Hernandez, Ana, Puelles, Mabel, Hatamleh, Nadia, Acosta, Osvaldo, Nunes, João, Guiomar Lito, M. J., Camões, M. Filomena, Filipe, Eduarda, Hwang, Euijin, Lim, Youngran, Bing, Wu, Qian, Wang, Chao, Wei, Hioki, Akiharu, Asakai, Toshiaki, Máriássy, Michal, Hanková, Zuzana, Nagibin, Sergey, Manska, Olexandra, Gavrilkin, Vladimir, Centro Nacional de Metrología. CENAM, MX, Dansk Fundamental Metrology. DFM, DK, Główny Urząd Miar. GUM, PL, Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMETRO, BR, INTI-Química. Buenos Aires, AR, Instituto Português da Qualidade - Scientific and Applied Metrology Unit. IPQ/UMCA-LCM, PT, Korea Research Institute of Standards and Science. KRISS, KR, National Institute of Metrology of P. R. China. NIM, CN, National Institute of Standards and Technology. NIST, US, National Metrology Institute of Japan. NMIJ, JP, Slovenský Metrologický Ústav. SMU, SK, Ukrainian State Research and Production Center of Standardization Metrology, Certification, and Consumers’ Rights Protection. UMTS, UA, All-Russian Scientific Institute for Physical-Technical and Radiological Measurements. VNIIFTRI, RU
Publicado 2012report -
16Otros Autores: “...National Institute of Standards and Technology...”
Aportado por: Bibliotecas (ING-UNLP)Publicación periódica -
17Publicado 2001“...National Institute of Standards and Technology...”
Aportado por: Bibliotecas (ING-UNLP)Libro -
18Publicado 2004“...United States. National Institute of Standards and Technology...”
Aportado por: Bibliotecas (UNCuyo)Libro -
19“...National Institute of Standards and Technology Information Technology Laboratory Computer Security...”
Aportado por: Biblioteca M. Cervantes (UNAHUR)Libro -
20Publicado 1997“...National Institute of Standards and Technology...”
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