Estudio espectroscópico de la ablación láser pulsada sobre ferritas de Ba/Sr

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Las películas delgadas de ferritas han sido preparadas empleando diversos métodos tales como sputtering, sputtering por radio frecuencia, deposición sol-gel, liquid-phase epitaxy y ablación por láser pulsado, entre otros. La ablación por láser pulsado es una de las técnicas más versátiles y poderosa...

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Oliva, M. I., Soria, F. A., Zandalazini, C. I., Rinaldi, C. A., Ferrero, Y. J. C.
Lenguaje:Español
Publicado: 2007
Materias:
ABLACION LASER
PELICULAS DELGADAS
FERRITAS
PLD
LASER ABLATION
THIN FILMS
FERRITES
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v19_n01_p079
Aporte de:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA) de Universidad de Buenos Aires
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description Las películas delgadas de ferritas han sido preparadas empleando diversos métodos tales como sputtering, sputtering por radio frecuencia, deposición sol-gel, liquid-phase epitaxy y ablación por láser pulsado, entre otros. La ablación por láser pulsado es una de las técnicas más versátiles y poderosas para producir películas delgadas, donde uno de los principales objetivos es poder replicar en la capa depositada la estequiometría del blanco utilizado. En función de este objetivo resulta importante controlar las especies emitidas durante la ablación encontrando las condiciones que aseguren valores estables de las especies emitidas entre sí. En este trabajo se realizaron mediciones de los espectros emitidos por el material eyectado en la ablación, utilizando como blanco ferrita comercial de Ba/Sr luego de ser tratados térmicamente bajo distintas condiciones. Además se determinó la composición estructural de los blancos por difracción de RX. La ablación se realizó a presión atmosférica, utilizando un láser Nd:Yag con longitud de onda de 532 nm y con una frecuencia de pulsos de 10 Hz. Se utilizó el láser en el rango de fluencia 1-31 J/cm2, variando la potencia del mismo y manteniendo un spot de área 0,0054 cm2. Para el análisis espectral de la emisión del plasma se emplearon dos espectrómetros Ocean Optics HR400 con redes para trabajar en el rango de 200-400 nm y 400 – 600 nm respectivamente. Ambos espectrómetros fueron utilizados con una rendija de entrada de 25 mm lo que les permite trabajar con una resolución de 1 nm
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