Respuesta eléctrica a las deformaciones mecánicas en películas delgadas del cermet Cr-SiOx
Se investigaron las propiedades eléctricas y el factor extensométrico de películas del cermet Cr/SiOx en composiciones 50/50 y 70/30 % en peso, para evaluar su uso en dispositivos "strain gauge". Las películas fueron depositadas por evaporación "flash". Las estructuras y fases re...
Guardado en:
| Autores principales: | , , , , |
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| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
1995
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| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v07_n01_p137 |
| Aporte de: |
| Sumario: | Se investigaron las propiedades eléctricas y el factor extensométrico de películas del cermet Cr/SiOx en composiciones 50/50 y 70/30 % en peso, para evaluar su uso en dispositivos "strain gauge". Las películas fueron depositadas por evaporación "flash". Las estructuras y fases resultantes fueron caracterizadas por microscopía y difracción de electrones. Se estudió la influencia del espesor y la velocidad del depósito sobre la resistencia laminar, el coeficiente térmico de resistencia y el factor extensométrico. Los resultados son consistentes con un mecanismo de conducción mixto, con una componente metálica y otra por efecto túnel termicamente activado, entre fases conductoras interconectadas y discretas, respectivamente |
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