Dependencia del gradiente de campo eléctrico con la temperatura en óxidos con la estructura bixbita

Se presenta un primer informe sobre un estudio realizado para determinar la dependencia del Gradiente de Campo Eléctrico con la Temperatura en óxidos binarios con la estructura bixbita, utilizando como método experimental las Correlaciones Angulares Perturbadas

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Shitu, Jorge Alejandro, Pasquevich, Alberto Felipe
Lenguaje:Español
Publicado: 1993
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v05_n01_p344
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