Estructura electrónica del Cd como impureza en Si

Se analiza la estructura electrónica del Cd como impureza en Si. Utilizando el método de Huckel extendido, se presentan resultados de clusters para impurezas del Cd en sitios sustitucionales y intersticiales de simetría tetrahédrica. Los niveles profundos obtenidos experimentalmente en el gap del Si...

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Caravaca, M. A., Sferco, S. J., Passeggi, M. C. G.
Lenguaje:Español
Publicado: 1989
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v01_n01_p245
Aporte de:
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