Interacciones de la luz con una unión túnel (en un Microscopio de Efecto Túnel)

Mostrar todas las versiones(3)

En esta Tesis se ha desarrollado una nueva técnica de caracterización óptica desuperficies con resolución nanométrica. A la mencionada tecnica se le ha dado elnombre de Microscopio Óptico de Barrido por Intensificación de Campo (FESOM). Elprincipio de operación de esta nanoscopía se basa en la inten...

Descripción completa

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Bragas, Andrea Verónica
Otros Autores: Martínez, Oscar Eduardo
Formato: Tesis doctoral publishedVersion
Lenguaje:Español
Publicado: Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales 1999
Materias:
MICROSCOPIO DE EFECTO TUNEL
LASER
INTENSIFICACION DE CAMPO
SCANNING TUNNELING MICROSCOPE
FIELD ENHANCEMENT
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.12110/tesis_n3196_Bragas
Aporte de:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA) de Universidad de Buenos Aires
id tesis:tesis_n3196_Bragas
record_format dspace
spelling tesis:tesis_n3196_Bragas2025-08-06T15:38:14Z Interacciones de la luz con una unión túnel (en un Microscopio de Efecto Túnel) Bragas, Andrea Verónica Martínez, Oscar Eduardo MICROSCOPIO DE EFECTO TUNEL LASER INTENSIFICACION DE CAMPO SCANNING TUNNELING MICROSCOPE LASER FIELD ENHANCEMENT En esta Tesis se ha desarrollado una nueva técnica de caracterización óptica desuperficies con resolución nanométrica. A la mencionada tecnica se le ha dado elnombre de Microscopio Óptico de Barrido por Intensificación de Campo (FESOM). Elprincipio de operación de esta nanoscopía se basa en la intensificación del campoeléctrico de la luz en las vecindades de una punta metálica, iluminada por un láser, quese acerca a distancias atómicas de una superficie. El campo intensificado actúa comosonda local e intensa, muy localizada, que interactúa con la superficie generando unaradiación que contiene información óptica de la superficie sensada, con altísimaresolución lateral. Se ha demostrado, de las imágenes obtenidas, una resolución mejorque 6nm en muestras metálicas. La técnica puede ser fácilmente extendida a muestrassemiconductoras o aislantes, utilizando la misma señal óptica generada como señal derealimentación del circuito de control. We present the experimental results of a new optical image technique with nanometricresolution, called Field Enhanced Scanning Optical Microscope (FESOM). Thistechnique uses as a local probe, the optical field enhanced at an STM tunnel junctionilluminated by a laser light. The enhanced field at the metallic tip acts as a very strongand localized field source, producing a radiation that it is tightly related with the opticalproperties of the sample under investigation. Optical images of metallic samples show alateral resolution as high as 6nm. Fil: Bragas, Andrea Verónica. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales; Argentina. Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales 1999 info:eu-repo/semantics/doctoralThesis info:ar-repo/semantics/tesis doctoral info:eu-repo/semantics/publishedVersion application/pdf spa info:eu-repo/semantics/openAccess https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/2.5/ar https://hdl.handle.net/20.500.12110/tesis_n3196_Bragas
institution Universidad de Buenos Aires
institution_str I-28
repository_str R-134
collection Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
language Español
orig_language_str_mv spa
topic MICROSCOPIO DE EFECTO TUNEL
LASER
INTENSIFICACION DE CAMPO
SCANNING TUNNELING MICROSCOPE
LASER
FIELD ENHANCEMENT
spellingShingle MICROSCOPIO DE EFECTO TUNEL
LASER
INTENSIFICACION DE CAMPO
SCANNING TUNNELING MICROSCOPE
LASER
FIELD ENHANCEMENT
Bragas, Andrea Verónica
Interacciones de la luz con una unión túnel (en un Microscopio de Efecto Túnel)
topic_facet MICROSCOPIO DE EFECTO TUNEL
LASER
INTENSIFICACION DE CAMPO
SCANNING TUNNELING MICROSCOPE
LASER
FIELD ENHANCEMENT
description En esta Tesis se ha desarrollado una nueva técnica de caracterización óptica desuperficies con resolución nanométrica. A la mencionada tecnica se le ha dado elnombre de Microscopio Óptico de Barrido por Intensificación de Campo (FESOM). Elprincipio de operación de esta nanoscopía se basa en la intensificación del campoeléctrico de la luz en las vecindades de una punta metálica, iluminada por un láser, quese acerca a distancias atómicas de una superficie. El campo intensificado actúa comosonda local e intensa, muy localizada, que interactúa con la superficie generando unaradiación que contiene información óptica de la superficie sensada, con altísimaresolución lateral. Se ha demostrado, de las imágenes obtenidas, una resolución mejorque 6nm en muestras metálicas. La técnica puede ser fácilmente extendida a muestrassemiconductoras o aislantes, utilizando la misma señal óptica generada como señal derealimentación del circuito de control.
author2 Martínez, Oscar Eduardo
author_facet Martínez, Oscar Eduardo
Bragas, Andrea Verónica
format Tesis doctoral
Tesis doctoral
publishedVersion
author Bragas, Andrea Verónica
author_sort Bragas, Andrea Verónica
title Interacciones de la luz con una unión túnel (en un Microscopio de Efecto Túnel)
title_short Interacciones de la luz con una unión túnel (en un Microscopio de Efecto Túnel)
title_full Interacciones de la luz con una unión túnel (en un Microscopio de Efecto Túnel)
title_fullStr Interacciones de la luz con una unión túnel (en un Microscopio de Efecto Túnel)
title_full_unstemmed Interacciones de la luz con una unión túnel (en un Microscopio de Efecto Túnel)
title_sort interacciones de la luz con una unión túnel (en un microscopio de efecto túnel)
publisher Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales
publishDate 1999
url https://hdl.handle.net/20.500.12110/tesis_n3196_Bragas
work_keys_str_mv AT bragasandreaveronica interaccionesdelaluzconunauniontunelenunmicroscopiodeefectotunel
_version_ 1840318369138475008

Ejemplares similares