Piezorresistividad en películas delgadas de Al Sb
Se prepararon películas delgadas de AlSb, de 20 a 100 nm de espesor, por "cosputtering" secuencial de ambos metales, con cátodos tipo magnetron en corriente continua, sobre sustratos. Los depósitos, caracterizados por difracción de electrones y de rayos X de ángulo rasante, son amorfos en...
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Autores principales: | Saccone, Fabio Daniel, Alonso, P. J., Aragón, Ricardo |
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Formato: | Artículo publishedVersion |
Lenguaje: | Español |
Publicado: |
Asociación Física Argentina
1996
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Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v08_n01_p210 |
Aporte de: |
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