Cabezal óptico compacto aplicado a la medición de vibraciones sin contacto

En este trabajo presentamos un cabezal óptico diseñado para medición de vibraciones basado en la señal de error de foco (SEF), la misma utilizada para leer datos en un cabezal láser de DVD o CD. El sistema fue diseñado con la motivación de obtener un dispositivo compacto y robusto, de bajo costo...

Descripción completa

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Aguilar, Andres, Morel, Eneas, Torga, Jorge
Formato: Documento de conferencia publishedVersion
Lenguaje:Español
Publicado: Cuarto Congreso Argentino de Ingeniería Mecánica – CAIM 2014 2020
Materias:
UTN
FRD
Vibraciones
sistema óptico
ensayo no destructivo
láser
medición sin contacto
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/20.500.12272/4518
Aporte de:
RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN) de Universidad Tecnológica Nacional
id I68-R174-20.500.12272-4518
record_format dspace
institution Universidad Tecnológica Nacional
institution_str I-68
repository_str R-174
collection RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN)
language Español
topic UTN
FRD
Vibraciones
sistema óptico
ensayo no destructivo
láser
medición sin contacto
spellingShingle UTN
FRD
Vibraciones
sistema óptico
ensayo no destructivo
láser
medición sin contacto
Aguilar, Andres
Morel, Eneas
Torga, Jorge
Cabezal óptico compacto aplicado a la medición de vibraciones sin contacto
topic_facet UTN
FRD
Vibraciones
sistema óptico
ensayo no destructivo
láser
medición sin contacto
description En este trabajo presentamos un cabezal óptico diseñado para medición de vibraciones basado en la señal de error de foco (SEF), la misma utilizada para leer datos en un cabezal láser de DVD o CD. El sistema fue diseñado con la motivación de obtener un dispositivo compacto y robusto, de bajo costo y pequeñas dimensiones, que pueda ser usado para medir múltiples puntos y sin contacto con la muestra. El CO presentado en este trabajo mide la posición absoluta entre el plano focal del sistema óptico y el punto iluminado en la muestra. Dado que la SEF es dependiente de la reflectividad de la superficie muestra es necesaria una calibración previa, por eso el sistema incorpora un actuador piezoeléctrico que le permite realizar calibraciones in situ y obtener medidas temporales de la posición. Con este esquema se midieron vibraciones con una amplitud de hasta 10 μm y una frecuencia de hasta 1 KHz. con una resolución espacial mejor que 0.5 micrones. Se presentan resultados experimentales en vibraciones de una superficie generadas con un sistema controlado por un elemento piezoeléctrico y en vibraciones transversales generadas en una barra metálica.
format Documento de conferencia
publishedVersion
author Aguilar, Andres
Morel, Eneas
Torga, Jorge
author_facet Aguilar, Andres
Morel, Eneas
Torga, Jorge
author_sort Aguilar, Andres
title Cabezal óptico compacto aplicado a la medición de vibraciones sin contacto
title_short Cabezal óptico compacto aplicado a la medición de vibraciones sin contacto
title_full Cabezal óptico compacto aplicado a la medición de vibraciones sin contacto
title_fullStr Cabezal óptico compacto aplicado a la medición de vibraciones sin contacto
title_full_unstemmed Cabezal óptico compacto aplicado a la medición de vibraciones sin contacto
title_sort cabezal óptico compacto aplicado a la medición de vibraciones sin contacto
publisher Cuarto Congreso Argentino de Ingeniería Mecánica – CAIM 2014
publishDate 2020
url http://hdl.handle.net/20.500.12272/4518
work_keys_str_mv AT aguilarandres cabezalopticocompactoaplicadoalamediciondevibracionessincontacto
AT moreleneas cabezalopticocompactoaplicadoalamediciondevibracionessincontacto
AT torgajorge cabezalopticocompactoaplicadoalamediciondevibracionessincontacto
bdutipo_str Repositorios
_version_ 1764820551885389825

Ejemplares similares