Determinación espectrográfica de silicio en uranio y tricarbonato de amonio y uranilo: Comparación de los portadores fluoruro de litio y óxido de galio

Se estudió la volatilidad del silicio, contenido como impureza en matrices de óxido de uranio (UjOg) de diferente origen, por la técnica de destilación fraccionada con portador. Los ensayos se realizaron con los portadores: óxido de galio y fluoruros de metales alcalinos. Se determinó en forma compa...

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Autores principales: Guido, O.O., Amaya, C.B.
Formato: Informe Técnico
Publicado: Comisión Nacional de Energía Atómica (CNEA) 2017
Materias:
INFORMES
Aporte de:
Nuclea - Repositorio Institucional de la Comisión Nacional de Energía Atómica (CNEA) de Comisión Nacional de Energía Atómica (CNEA)
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description Se estudió la volatilidad del silicio, contenido como impureza en matrices de óxido de uranio (UjOg) de diferente origen, por la técnica de destilación fraccionada con portador. Los ensayos se realizaron con los portadores: óxido de galio y fluoruros de metales alcalinos. Se determinó en forma comparativa la sensibilidad espectrográfica del silicio con óxido de galio y fluoruro de litio, calculándose la reproducibilidad en ambos casos. Comprobada la encienda del fluoruro de litio, se desarrolló un método para determinar silicio en el ámbito de concentración de 5 a 200 p.p.m. Si/U, con una desviación standard relativa, para una determinación del orden de 15%. Los resultados obtenidos aplicando este método fueron concordantes con los de un método espectrofotométrico.
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