Medición de espesores delgados con ultrasonido

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Gómez, Juan Carlos, Gwirc, Sergio, INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires, AR, Congreso de Microelectrónica Aplicada
Formato: conferenceObject
Lenguaje:Español
Publicado: INTI-Electrónica e Informática 2010
Materias:
Ultrasonido
Mediciones
Espesor
Procesamiento de señales
Pulsos
Eco
Placas
Aceros
Transductores
Acceso en línea:http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH0145/d655c516.dir/doc.pdf
Aporte de:
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI) de INTI
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