Phase-object analysis with a speckle interferometer

We describe the characteristics of a double-exposure specklegram obtained through a double-aperture system, by introduction of a wedge in front of one aperture in one exposure. It is assumed that a uniform dis placement of the difiuser is produced between exposures. The average intensity distributio...

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Ángel, Luciano, Tebaldi, Myrian Cristina, Trivi, Marcelo Ricardo, Bolognini, Néstor Alberto
Formato: Articulo
Lenguaje:Inglés
Publicado: 2002
Materias:
Ingeniería
Física
óptica
interferometría Speckle
medición de fase
Acceso en línea:http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/44356
Aporte de:
SEDICI (UNLP) de Universidad Nacional de La Plata

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