Uso de análisis de componentes principales para el estudio de la estructura fina de espectros de dispersión Raman resonante de rayos X

Tesis (Lic. en Física)--Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física, 2014.

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Robledo, José Ignacio
Otros Autores: Sánchez, Héctor Jorge
Formato: bachelorThesis
Lenguaje:Español
Publicado: 2024
Materias:
Análisis multivariado
Espectros de rayos X
Dispersión elástica e inelástica
Caracterización estructural
Métodos multivariados
Multivariate analysis
X-ray spectra
Elastic and inelastic scattering
X and gamma-ray spectroscopy
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/11086/551534
Aporte de:
Repositorio Digital Universitario (UNC) de Universidad Nacional de Córdoba
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spelling I10-R141-11086-5515342024-04-23T06:35:30Z Uso de análisis de componentes principales para el estudio de la estructura fina de espectros de dispersión Raman resonante de rayos X Robledo, José Ignacio Sánchez, Héctor Jorge Análisis multivariado Espectros de rayos X Dispersión elástica e inelástica Caracterización estructural Métodos multivariados Multivariate analysis X-ray spectra Elastic and inelastic scattering X and gamma-ray spectroscopy Tesis (Lic. en Física)--Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física, 2014. Fil: Robledo, José Ignacio. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física; Argentina. El análisis de componentes principales (ACP) es una técnica estadística multivariada de análisis de datos de suma utilidad y amplio uso interdisciplinario. En particular puede ser utilizada para el análisis de la información encriptada en la variabilidad presente en espectros de rayos X. En este trabajo se utilizará esta técnica para el análisis de espectros de Dispersión Raman Resonante de Rayos X provenientes de muestras oxidadas con la finalidad de discernir sus estados de oxidación en las capas nanométricas superficiales del material en estudio. Principal component analysis (PCA) is a multivariate statistical data analysis technique of great utility and wide interdisciplinary use. In particular, it can be used for the analysis of the information encrypted in the variability present in X-ray spectra. In this work this technique will be used for the analysis of Resonant X-Ray Raman Scattering spectra from oxidized samples in order to discern their oxidation states in the nanometric surface layers of the material under study. Fil: Robledo, José Ignacio. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Matemática, Astronomía y Física; Argentina. 2024-04-22T16:54:56Z 2024-04-22T16:54:56Z 2014-03 bachelorThesis http://hdl.handle.net/11086/551534 spa Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
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