Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis /

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Newbury, Dale E.
Formato: Libro
Lenguaje:Inglés
Publicado: New York : Plenum Press, c1986.
Materias:
Aporte de:Registro referencial: Solicitar el recurso aquí
LEADER 00959cam#a2200277#a#4500
001 BCCAB000084
008 851115s1986####nyua###f######001#0#eng#c
005 20100827155554.0
003 AR-BCCAB
245 0 0 |a Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis /  |c Dale E. Newbury ... [et al.]. 
260 # # |a New York :  |b Plenum Press,  |c c1986. 
300 # # |a xii, 454 p. :  |b il. (algunas col.) ;  |c 24 cm. 
504 # # |a Bibliografía: p. 435-448. 
020 # # |a 0306421402 
700 1 # |a Newbury, Dale E. 
080 # # |a 537.533.35 
650 # 0 |a Scanning electron microscopy. 
650 # 0 |a X-ray microanalysis. 
650 # 2 |a Electron Probe Microanalysis. 
650 # 2 |a Microscopy, Electron, Scanning. 
650 # 7 |a Microscopía electrónica por barrido.  |2 inist 
650 # 7 |a Microanálisis.  |2 inist 
040 # # |a DNLM/DLC  |c DLC  |d DLC  |b spa  |d arbccab 
500 # # |a Incluye índice. 
942 # # |c BK 
952 # # |2 udc  |a ARBCCAB  |b ARBCCAB  |i 14365  |o 537.533.35 N428  |p 14365  |t 1  |y BK