Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
MOS
CARRIERS INJECTION
3
DBIE
3
DEGRADACION
3
DEGRADATION
3
DIELECTRIC BREAKDOWN
3
DIELECTRIC-BREAKDOWN-INDUCED-EPITAXY
3
DIODO CONTROLADO POR PUERTA
3
FIABILIDAD
3
GAMMA RADIATION
3
GATE CONTROLLED DIODE
3
INYECCION DE PORTADORES
3
METAL GATES
3
METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
3
METAL-OXIDO-SEMICONDUCTOR
3
OXIDOS ULTRA DELGADOS
3
PROGRESSIVE BREAKDOWN
3
RADIACION GAMMA
3
RELIABILITY
3
RUPTURA DIELECTRICA
3
RUPTURA PROGRESIVA
3
SIO2
3
TUNEL
3
TUNNELING
3
ULTRA-THIN OXIDES
3
Circuitos neuromórficos
1
Conmutación Resistiva
1
Doctorado en Ingeniería
1
Envejecimiento
1
Fiabilidad
1
-
1por Miranda, Enrique A.Materias: “...RUPTURA DIELECTRICA...”
Publicado 2002
Tesis doctoral publishedVersion -
2por Miranda, Enrique A.Materias: “...RUPTURA DIELECTRICA...”
Publicado 2002
Tesis doctoral publishedVersion -
3
-
4por Aguirre, Fernando LeonelMaterias: “...Ruptura dieléctrica...”
Publicado 2021
Aportado por: RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN)Tesis doctoral acceptedVersion -
5por Palumbo, Félix Roberto MarioMaterias: “...RUPTURA PROGRESIVA...”
Publicado 2005
Tesis doctoral publishedVersion -
6por Palumbo, Félix Roberto MarioMaterias: “...RUPTURA PROGRESIVA...”
Publicado 2005
Tesis doctoral publishedVersion -
7