Materias dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
Metrología
Calibración
19
Incertidumbre
13
Patrones
13
Mediciones
11
Sistema Interamericano de Metrología
11
Comparadores
6
Frecuencia
6
Medidores
6
Instrumentos de medición
5
Masa
5
Energía eléctrica
4
Fuerza
4
Dispersión
3
INTI
3
Mediciones eléctricas
3
Resistores
3
Volumen
3
Acústica
2
Calidad
2
Corriente alterna
2
Corriente continua
2
Corriente eléctrica
2
Determinación (química)
2
Errores
2
Gas natural
2
Interferometría
2
Kilogramo
2
Mediciones volumétricas
2
Microondas
2
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21por Pérez Urquiza, Melina, Maldonado Torres, Mauricio, Mitani, Yoshito, Schantz, Michele M., Duewer, David L., May, Wille E., Parris, Reenie M., Wise, Stephen A., Kaminski, Katja, Philipp, Rosemarie, Win, Tin, Rosso, Adriana, Kim, Dal Ho, Ishikawa, Keiichiro, Krylov, A. I., Kustikov, Y. A., Baldan, Annarita
Publicado 2013article -
22por Álvarez, L., Bastida, K., Mingolla, G., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Publicado 2017conferenceObject -
23
-
24por Hioki, Akiharu, Nonose, Naoko, Liandi, Ma, Jingbo, Chao, Liuxing, Feng, Chao, Wei, Cho, Kyung Haeng, Suh, Jung Ki, Min, Hyung Sik, Lim, Youngran, Recknagel, Sebastian, Koenig, Maren, Vogl, Jochen, Caciano de Sena, Rodrigo, dos Reis, Lindomar Augusto, Borinsky, Mónica, Puelles, Mabel, Hatamleh, Nadia, Acosta, Osvaldo, Turk, Gregory, Rabb, Savelas, Sturgeon, Ralph, Methven, Brad, Rienitz, Olaf, Jaehrling, Reinhard, Konopelko, L. A., Kustikov, Yu. A., Kozyreva, S. B., Korzh, A. A.
Publicado 2013article -
25por Becerra, L. O., Peña, L. M., Luján, L., Díaz, J. C., Centeno, , L. M., Loayza, V. M., Cacais, F. A., Ramos, O., Rodriguez, S., Garcia, F., Leyton, F., Santo, C., Caceres, J., Kornblit, F., Leiblich, J., Claude, J.
Publicado 2016article -
26
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27
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28
-
29por Yang, Yanfei, Huang, Lung-I, Fukuyama, Yasuhiro, Liu, Fan-Hung, Real, Mariano A., Barbara, Paola, Liang, Chi-Te, Newell, David B., Elmquist, Randolph E.
Publicado 2014article -
30por Viliesid, Miguel, Colín Castellanos, Carlos, Chávez, T., Chaudhary, K. P., Dvořáček, Frantisek, Stoup, John, Santos Barros, Wellington, Vaudagna, Leandro, Morales, Roberto, Acquarone, Alejandro, Carrasco, J., Vega, M., Salazar, M., Gil, V., Dimas, J., Reyes, E., Hamilton, F., Reddock, T., Durga, S., Burton, T.
Publicado 2015article -
31por Medvedevskikh, Maria, Jury, Bessonov, Krasheninina, Maria, Acco Garcia, Steve Ali, Haraldsson, Conny, Rodriguez, M. Alejandra, Rodriguez, Gabriela, Salvo, Karino, Gavrilkin, Vladimir, Kulik, Sergey, Samuel, Laly, do Rego, Eliane C. P., Wollinger, Wagner, Monteiro, Tânia M., de Carvalho, Lucas J.
Publicado 2017article -
32por Kyriazis, Gregory A., Di Lillo, Lucas, Slomovitz, Daniel, Iuzzolino, Ricardo, Yasuda, Eliana, Trigo, Leonardo, Laiz, Héctor, Debatin, Rosane, Franco, Ana Maria R., Afonso, Edson, Congresso Brasileiro de Metrologia, 8, Congresso Internacional de Metrologia Elétrica (SEMETRO), 11
Publicado 2015conferenceObject -
33conferenceObject
-
34
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35conferenceObject
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36
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37por Máriássy, Michal, Hioki, Akiharu, Konopelko, Leonid A., Dimchoglo, Irina, Winchester, Michael, Butler, Therese, Case, Ryan, Hernández, Ana, Galli, Ariel, Alvarez, Pablo, Lee, Joung Hae, Royer, Chantal, Shi, Naijie, Chao, Jingbo, Wu, Bing, Li, Haifeng, Turk, Gregory
Publicado 2008article -
38por Wong, George, Wu, Lixue, National Institute of Standards and Technology. NIST, Estados Unidos, Centro Nacional de Metrología. CENAM, México, Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMetro, Brasil, Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI, Argentina, Institute for National Measurement Standards. INMS, Canadá
Publicado 2007article -
39por Izquierdo, Daniel, Moreno, José Ángel, Castro, Blanca Isabel, de Barros e Vasconcellos, Renata, Cazabat, Marcelo, Koffman, Andrew, Cote, Marcel
Publicado 2016article -
40por Sánchez, J., Quille, R., Comi, C., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Publicado 2017conferenceObject