Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
MOS
CIRCUITOS INTEGRADOS
4
CARRIERS INJECTION
3
DBIE
3
DEGRADACION
3
DEGRADATION
3
DIELECTRIC BREAKDOWN
3
DIELECTRIC-BREAKDOWN-INDUCED-EPITAXY
3
DIODO CONTROLADO POR PUERTA
3
FIABILIDAD
3
GAMMA RADIATION
3
GATE CONTROLLED DIODE
3
INYECCION DE PORTADORES
3
METAL GATES
3
METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
3
METAL-OXIDO-SEMICONDUCTOR
3
OXIDOS ULTRA DELGADOS
3
PROGRESSIVE BREAKDOWN
3
RADIACION GAMMA
3
RELIABILITY
3
RUPTURA DIELECTRICA
3
RUPTURA PROGRESIVA
3
SIO2
3
TUNEL
3
TUNNELING
3
ULTRA-THIN OXIDES
3
ARQUITECTURA
2
BAROZZI, FABRIZIO
2
BILBAO, TATIANA
2
CHINA
2
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1por Aguirre, Fernando Leonel
Publicado 2021Aportado por: RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN)Tesis doctoral acceptedVersion -
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16por Fitó Friedrichs, Gretel Alejandra, Berenstein, Giselle Anahí, Nasello, María Soledad, Dutra Alcoba, Yohana Yisel, Hughes, Enrique Alejandro, Basack, Silvana Beatriz, Montserrat, Javier Marcelo
Publicado 2025Artículo publishedVersion -
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