Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
High-K gate dielectrics
MOS devices
5
High-k gate dielectrics
4
C-V curve
2
Capacitance
2
Capacitance-voltage curve
2
Capacitive structure
2
Charge trapping/detrapping
2
Comparative analysis
2
Dielectric materials
2
Gate dielectrics
2
Hafnium oxides
2
High-k dielectric
2
Hysteresis
2
Insulating layers
2
Nanoelectronics
2
Normal operating conditions
2
Physical parameters
2
Radiation Effects
2
Radiation effects
2
hysteresis
2
Electron traps
1
Ingeniería
1
-
1por Sambuco Salomone, Lucas, Carbonetto, Sebastián, García Inza, Mariano, Lipovetzky, José, Redín, Eduardo Gabriel, Campabadal, Francesca, Faigón, Adrián
Publicado 2011Aportado por: SEDICI (UNLP)Objeto de conferencia -
2
-
3
-
4
-
5