Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
XPS
30
X ray photoelectron spectroscopy
28
Photoelectron spectroscopy
10
Ions
8
Oxygen
8
Scanning electron microscopy
8
Photoelectrons
6
Quinone groups
6
Voltametría
6
XPS analysis
6
XPS measurements
6
DFT
5
Aniline
4
Atoms
4
Carbon nanotubes
4
Cerium alloys
4
Chemical vapor
4
Chemical vapor deposition
4
Coated substrates
4
Conducting polymers
4
Electrocatalysis
4
Electrocatalytic activity
4
Electrochemical electrodes
4
Electrodes
4
Electrolytic reduction
4
Electron emission
4
Electronic properties
4
Emission spectroscopy
4
Ex situ
4
Experimental conditions
4
-
1Materias: “...XPS...”
Informe técnico submittedVersion -
2Materias: “...XPS...”
Informe técnico submittedVersion -
3Materias: “...XPS...”
Informe técnico submittedVersion -
4Materias: “...XPS...”
Informe técnico submittedVersion -
5Materias: “...XPS...”
Informe Técnico -
6Materias: “...XPS...”
Informe Técnico -
7Materias: “...XPS...”
Informe técnico submittedVersion -
8
-
9Materias: “...XPS...”
Informe técnico submittedVersion -
10Materias: “...XPS...”
Informe Técnico -
11por Nahuel Montesinos, V., Quici, N., Beatriz Halac, E., Leyva, A.G., Custo, G., Bengio, S., Zampieri, G., Litter, M.I.Materias: “...XPS analysis...”
JOUR -
12
-
13
-
14Publicado 2018Materias: “...XPS...”
-
15Materias: “...XPS...”
JOUR -
16Materias: “...XPS measurements...”
-
17Materias: “...XPS measurements...”
JOUR -
18
-
19Materias: “...XPS...”
JOUR -
20