Tipo de registro dentro de su búsqueda.
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2por Iaria, P. A., Giorgio, P., Tischler, M., INTI-Física. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 2
Publicado 1998conferenceObject -
3por Tischler, M., Giorgio, P., Lehmann, H., INTI-Departamento de Patrones Nacionales de Medida. INTI-DPNM. Buenos Aires, AR, Electrotherm Geraberg, DE, Jornadas de desarrollo e innovación, 3, Instrumentación, control y metrología, precompetitivo, innovación tecnológica
Publicado 2000conferenceObject -
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5por Tischler, M., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 2
Publicado 1998conferenceObject -
6por Augustin, S., Boguhn, D., Tischler, M., Bernhard, F., Mammen, H., INTI-Departamento de Patrones Nacionales de Medida. Buenos Aires, AR, Institute of Process Measurement and Sensor Technology.Ilmenau Technical University. Ilmenau, DE, Jornadas de desarrollo e innovación, 3, Instrumentación, control y metrología, precompetitivo, desarrollo tecnológico
Publicado 2000conferenceObject -
7por Tischler, M., Layño, P., Giorgio, P., INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación tecnológica, 6, Metrología, desarrollo e innovación
Publicado 2007conferenceObject