Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Tipo de registro dentro de su búsqueda.
-
1por Bierzychudek, Marcos E., Tonina, Alejandra, Sánchez-Peña, Ricardo S., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. CONICET, AR, Instituto Tecnológico de Buenos Aires. ITBA. Buenos Aires, AR“...IEEE...”
Publicado 2013
article -
2por Bierzychudek, Marcos E., Sánchez-Peña, Ricardo, Tonina, Alejandra, Iuzzolino, Ricardo, Drung, Dietmar, Götz, Martin, Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Physikalisch-Technische Bundesanstalt. PTB. Braunschweig, DE, Conference on Precision Electromagnetic Measurements. CPEM“...IEEE...”
Publicado 2016
other -
3
-
4por Bierzychudek, Marcos E., Tonina, Alejandra, Sánchez-Peña, Ricardo S., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas. CONICET, AR, Instituto Tecnológico de Buenos Aires. ITBA. Buenos Aires, AR“...IEEE...”
Publicado 2015
article -
5por Iuzzolino, Ricardo, Behr, Ralf, Bierzychudek, Marcos E., Palafox, Luis, Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Physikalisch-Technische Bundesanstalt. PTB. Braunschweig, DE, Conference on Precision Electromagnetic Measurements. CPEM“...IEEE...”
Publicado 2016
other -
6
-
7
-
8por Bierzychudek, Marcos E., Götz, Martin, Schmelzer, Martin, Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Physikalisch-Technische Bundesanstalt. PTB. Braunschweig, DE, Conference on Precision Electromagnetic Measurements. CPEM“...IEEE...”
Publicado 2016
other -
9por Bierzychudek, Marcos E., Elmquist, Randolf E., Jones, G. R., Pritchard, B., Hernández, F., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, National Measurement Institute. West Lindfield, AU, Centro Nacional de Metrología. Querétaro, MX, Conference on Precision Electromagnetic Measurements. CPEM“...IEEE...”
Publicado 2008
other