Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
Photoelectron spectroscopy
7
Ion beams
6
Oxygen
6
X ray photoelectron spectroscopy
5
Atomic force microscopy
4
Carbon nanotubes
4
Chemical modification
4
Chemical vapor deposition
4
Coalescence
4
In-situ
4
Ion beam deposition
4
Scanning electron microscopy
4
Abrupt transition
3
Atomic spectroscopy
3
Chemical vapor
3
Coated substrates
3
Comprehensive studies
3
Crystal structure
3
Crystal structure and morphology
3
Electron emission
3
Electronic properties
3
Energy minimization
3
Ex situ
3
Experimental conditions
3
Experimental data
3
FEG-SEM
3
Field emission
3
Field emission measurements
3
Field emission property
3
Field-effect
3
-
1
-
2por Marchi, M.C., Bilmes, S.A., Ribeiro, C.T.M., Ochoa, E.A., Kleinke, M., Alvarez, F.
Publicado 2010Artículo publishedVersion -
3por Acua, J.J.S., Escobar, M., Goyanes, S.N., Candal, R.J., Zanatta, A.R., Alvarez, F.
Publicado 2011Artículo publishedVersion -
4por Marchi, M.C., Bilmes, S.A., Ribeiro, C.T.M., Ochoa, E.A., Kleinke, M., Alvarez, F.
Publicado 2010Artículo publishedVersion -
5por Acua, J.J.S., Escobar, M., Goyanes, S.N., Candal, R.J., Zanatta, A.R., Alvarez, F.
Publicado 2011Artículo publishedVersion -
6
-
7
-
8
-
9
-
10JOUR
-
11por Martina, P., Leguizamon, M., Prieto, C.I., Sousa, S.A., Montanaro, P., Draghi, W.O., Stämmler, M., Bettiol, M., de Carvalho, C.C.C.R., Palau, J., Figoli, C., Alvarez, F., Benetti, S., Lejona, S., Vescina, C., Ferreras, J., Lasch, P., Lagares, A., Zorreguieta, A., Leitão, J.H., Yantorno, O.M., Bosch, A.JOUR
-
12
-
13
-
14JOUR
-
15
-
16
-
17JOUR