Autor
Tischler, M.
5
García Skabar, Javier
3
Giorgio, P.
2
INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires, AR
2
INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR
2
Svoboda, Hernán G.
2
Tufaro, Leonardo N.
2
American Society for Testing and Materials
1
Amuso, M.A.
1
Augustin, S.
1
Barkász, Zoltán L.
1
Bernhard, F.
1
Boguhn, D.
1
Brengi, D.
1
Brengi, Diego Javier
1
Considine, Douglas M.
1
Electrónica e informática, desarrollo tecnológico, precompetitivo
1
García Skabar, J.
1
Garrity, K.M.
1
Holzbock, Wener G.
1
INTI-Departamento de Patrones Nacionales de Medida. Buenos Aires, AR
1
Institute of Process Measurement and Sensor Technology.Ilmenau Technical University. Ilmenau, DE
1
Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMETRO. Rio de Janeiro, BR
1
Instrumentación, control y metrología, precompetitivo, desarrollo tecnológico
1
Jiménez Rebagliati, M.
1
Jornadas de desarrollo e innovación, 3
1
Jornadas de desarrollo e innovación, 4
1
Kaye, Joseph
1
Lewis, C.T.
1
Liberman, E.
1
Mammen, H.
1
Morcelle del Valle, Pablo
1
Máciel, M.A.D.
1
National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg, US
1
Omega Engineering (USA)
1
Pallett, E. H. J.
1
Parra Visentin, Matías Emmanuel
1
Rangugni, G.
1
Tropea, S.
1
Tropea, Salvador Eduardo
1
Welsh, John A.
1
Zottig, Carlos A.
1