Autor
INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR
16
Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR
16
Jornadas de desarrollo e innovación, 3
11
INTI-Interlaboratorios. Buenos Aires, AR
10
Silva, H.
10
Tempone, N.
9
Henze, A.
8
Monasterios, G.
8
Hioki, Akiharu
7
Instrumentación, control y metrología, precompetitivo, desarrollo tecnológico
7
Bastida, K.
6
Casais, José Luis
6
INTI-Física. Buenos Aires, AR
6
Jornadas de desarrollo e innovación, 4
6
Puglisi, Celia
6
Acosta, Osvaldo
5
Castro, Liliana
5
Chao, Wei
5
Hatamleh, Nadia
5
INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires, AR
5
Kornblit, Fernando
5
Laiz, H.
5
Lim, Youngran
5
Máriássy, Michal
5
Puelles, Mabel
5
Congresso Brasileiro de Metrologia, 8
4
Congresso Internacional de Metrologia Elétrica (SEMETRO), 11
4
Di Lillo, Lucas
4
Hernández, Ana
4
Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química. Buenos Aires, AR
4
Jornadas de desarrollo e innovación tecnológica, 5
4
Jornadas de desarrollo e innovación tecnológica, 6
4
National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg, US
4
Puglisi, C.
4
Schweitzer, Diego A.
4
Simposio Metrología
4
Simposio de Metrología
4
TecnoINTI edición 2013. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11
4
TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
4
Turk, Gregory
4
Yapur, F.
4
Álvarez, L.
4
Alvarez, Pablo
3
Asakai, Toshiaki
3
Bing, Wu
3
Borges, Paulo P.
3
Borinsky, Mónica B.
3
Camões, M. Filomena
3
Castro, L.
3
Centro Nacional de Metrología. CENAM. Querétaro, MX
3
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