Autor
Casais, José Luis
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INTI-Física. Buenos Aires, AR
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Congresso Brasileiro de Metrologia, 8
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Congresso Internacional de Metrologia Elétrica (SEMETRO), 11
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García, R.
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Jornadas de desarrollo e innovación, 4
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Laiz, H.
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Schweitzer, Diego A.
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Barceló, L. E.
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Congreso Internacional de Metrología Eléctrica, 9
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Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR
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Di Federico, Martín
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García, Ricardo I.
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Grupo MEMS, Comisión Nacional de Energía Atómica. CNEA. Buenos Aires, AR
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INTI-Centro de Micro y Nano Electrónica del Bicentenario. CMNB. Buenos Aires, AR
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INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR
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IX SEMETRO
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Instrumentación, control y metrología, desarrollo de infraestructura tecnológica, precompetitivo
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Instrumentación, control y metrología, desarrollo tecnológico, precompetitivo
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Instrumentación, control y metrología, precompetitivo, desarrollo tecnológico
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Iuzzolino, R.
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Jornadas de desarrollo e innovación, 3
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Julián, P.M.
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Lamagna, A.
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Lerner, B.
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Mandolesi, P.
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Pareja Obregón, P.D.
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Prego, J. L.
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Pérez, M.S.
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Taibo, L. N.
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Universidad Nacional del Sur. Bahía Blanca, AR
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Workshop Iberchip, 15
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