Medidas de resistividad, rayos-X, transmisión y reflectancia de Bi₂Sr₂Ca₁Cu₂O₈˖ᴅ dopado con Se
En el presente trabajo presentamos medidas preliminares de transmisión y reflexión para estudiar el efecto de introducir impurezas de Se en Bi₂Ca₁Cu₂O₈˖ᴅ. La caracterización de los materiales se realizó con medidas de resistividad eléctrica y rayos-X. Las curvas de reflectividad y transmitancia a te...
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| Autores principales: | , , |
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| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
1989
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| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v01_n01_p288 |
| Aporte de: |
| Sumario: | En el presente trabajo presentamos medidas preliminares de transmisión y reflexión para estudiar el efecto de introducir impurezas de Se en Bi₂Ca₁Cu₂O₈˖ᴅ. La caracterización de los materiales se realizó con medidas de resistividad eléctrica y rayos-X. Las curvas de reflectividad y transmitancia a temperatura ambiente y a 30 K muestran el comportamiento típico observado ya en otros superconductores de alta Tc. A diferencia del compuesto puro que no da estructura en los espectros de reflectividad y transmitancia por encima de 800 cm-₁, el compuesto dopado en Se presenta estructura alrededor de 3200 cm-₁. Esto también se observa con otro tipo de impurezas aunque ligeramente corrido en frecuencias |
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