Microscopía de Efecto Túnel para la Caracterización de Nanoestructuras

El microscopio de efecto túnel (Scanning Tunneling Microscope o STM, en inglés) es un instrumento diseñado para obtener imágenes con resolución atómica de superficies de materiales conductores. En esta técnica, una pequeña punta metálica se aproxima a la superficie de un material hasta una distanc...

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Vitti, Javier Oscar, Mendoza, Sandra Marina
Formato: info:eu-repo/semantics/other publisherVersion
Lenguaje:Español
Publicado: 2021
Materias:
Microscopio de Efecto Túnel; STM; Caracterización de nanoestructuras
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/20.500.12272/5391
https://doi.org/10.33414/ajea.8.860.2020
Aporte de:
RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN) de Universidad Tecnológica Nacional

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