Degradación de estucturas soi en ambientes hostiles

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Lozano, A., Palumbo, F., Malatto, L., Gimenez, G., Bonaparte, J., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Formato: other
Lenguaje:Español
Publicado: INTI 2017
Materias:
Degradación
Siliconas
Acceso en línea:http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH9f90.dir/doc.pdf
Aporte de:
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI) de INTI
Descripción
Descripción no disponible.

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