Modeling of a sampling system based on Sigma-Delta ADC for data acquisition in metrology
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Autores principales: | , , , , , |
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Formato: | article conferenceObject |
Lenguaje: | Inglés |
Publicado: |
IEEE
2012
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Materias: | |
Acceso en línea: | http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH0175/c018d40d.dir/doc.pdf |
Aporte de: |
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