Cita APA (7a ed.)

Lozano, A., Malatto, L., Fraigi, L., Lupi, D., INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires, A., LATW2004, & IEEE Latin-American Test Workshop, 5. (2004). Testing of a MEMS SOI microrelay. INTI.

Cita Chicago Style (17a ed.)

Lozano, A., L. Malatto, L. Fraigi, D. Lupi, AR INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires, LATW2004, y 5. IEEE Latin-American Test Workshop. Testing of a MEMS SOI Microrelay. INTI, 2004.

Cita MLA (8a ed.)

Lozano, A., et al. Testing of a MEMS SOI Microrelay. INTI, 2004.