Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos

El objetivo general será la búsqueda de arquitecturas circuitales que permitan el fácil testeo del chip, la robusticidad ante daños por radiación y su implementación en tecnologías CMOS.

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Petrashin, Pablo Antonio dir.
Formato: info:eu-repo/semantics/other Proyecto de investigación acceptedVersion
Lenguaje:Español
Publicado: 2016
Materias:
TK ingeniería eléctrica. Ingeniería electrónica nuclear
Acceso en línea:http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/999/1/PI_Petrashin.pdf
Aporte de:
Producción Académica Universidad Católica de Córdoba (UCCor) de Universidad Católica de Córdoba

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