Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos
El objetivo general será la búsqueda de arquitecturas circuitales que permitan el fácil testeo del chip, la robusticidad ante daños por radiación y su implementación en tecnologías CMOS.
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Autor principal: | |
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Formato: | info:eu-repo/semantics/other Proyecto de investigación acceptedVersion |
Lenguaje: | Español |
Publicado: |
2016
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Materias: | |
Acceso en línea: | http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/999/1/PI_Petrashin.pdf |
Aporte de: |
Sumario: | El objetivo general será la búsqueda de arquitecturas circuitales que permitan el fácil testeo del chip, la robusticidad ante daños por radiación y su implementación en tecnologías CMOS. |
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