IEEE : instrumentation & measurement magazine

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Formato: Revista
Lenguaje:Inglés
Publicado: New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1998-
Materias:
Acceso en línea:http://ieeexplore.ieee.org
Aporte de:Registro referencial: Solicitar el recurso aquí
Descripción
Notas:Ubicada en depósito.
Colección cerrada.
Descripción Física:v. : il. ; 28 cm.
Disponible además en texto completo en Biblioteca Electrónica Secyt desde PCs de Biblioteca UBP.
También disponible por suscripción via web.
Frecuencia de Publicación:Trimestral
ISSN:1094-6969