Incertidumbre por desadaptación en RF - parte 1

por Monasterios, G., Silva, H., Henze, A., Tempone, N., INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires, AR
Publicado 2011

Incertidumbre por desadaptación en RF - parte 1

por Monasterios, Guillermo, Silva, H., Henze, Alejandro, Tempone, N., INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires, AR
Publicado 2011

Incertidumbre por desadaptación en RF - parte 2

por Silva, H., Monasterios, G.uillermo, Henze, A., Tempone, N., INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires, AR
Publicado 2012

Corrección del mismatch e incertidumbre asociada en la medición de potencia en RF

por Silva, H., Monasterios, G., Henze, A., Tempone, N., INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires, AR, Simposio de Metrología 2012
Publicado 2012

Ampliación del alcance en frecuencia en la medición de parámetros de dispersión del Laboratorio de RF y Microondas del INTI

por Monasterios, G., Silva, H., Henze, A., Tempone, N., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, SEMETRO. Congreso Internacional de Metrología Eléctrica, 10
Publicado 2013

Ampliación del alcance en frecuencia en la medición de parámetros de dispersión del Laboratorio de RF y Microondas del INTI

por Monasterios, G., Silva, H., Henze, A., Tempone, N., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, SEMETRO. Congreso Internacional de Metrología Eléctrica, 10
Publicado 2013

Multivariate statistics applied to assess measurement uncertainty of complex reflection coefficient

por Benjamín, M., Silva, H., Monasterios, G., Tempone, N., Henze, A., INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires, AR, Conference on Precision Electromagnetic Measurements CPEM 2014 (pp. 18-19)
Publicado 2014

Nuevo método para el cálculo de incertidumbre por mismatch en la medición de potencia en RF

por Silva, H., Monasterios, G., Tempone, N., Henze, A., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2013. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11
Publicado 2013

Nuevo método para el cálculo de incertidumbre por mismatch en la medición de potencia en RF

por Silva, H., Monasterios, G., Tempone, N., Henze, A., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2013. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11
Publicado 2013