Sistema de generación de ondas arbitrarias basado en un patrón de tensión Josephson

por Iuzzolino, R. J., Bierzychudek, M. E., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Publicado 2017

Sistema de generación de ondas arbitrarias basado en un patrón de tensión Josephson

por Iuzzolino, R. J., Bierzychudek, M. E., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Publicado 2017

Comparison of the Josephson voltage standards of the INTI and the BIPM (part of the ongoing BIPM key comparison BIPM.EM-K10.a)

por Solve, S., Chayramy, R., Stock, M., Iuzzolino, R., Tonina, A., Bureau International des Poids et Mesures. BIPM. Sèvres, FR, INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR
Publicado 2012

Puente para la medición de resistores patrones en corriente alterna

por Iuzzolino, R., Laíz, H., García, R., INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 5, Desarrollo e innovación tecnológica, metrología, autogenerado
Publicado 2004

Actualización del hardware y software de un interferómetro para la calibración interferométrica de bloques patrón

por Giarmana, G., Iuzzolino, R., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12
Publicado 2015

Trilateral South-American project: a reference system for measuring electric power up to 100 kHz – progress report II

por Kyriazis, G. A., Di Lillo, L., Slomovitz, D., Iuzzolino, R., Yasuda, E., Trigo, L., de Souza, R. M., Laiz, H., Debatin, R. M., Afonso, E., Brazilian Congress on Metrology, 9
Publicado 2018

Trilateral South-American project: a reference system for measuring electric power up to 100 kHz – progress report II

por Kyriazis, G. A., Di Lillo, L., Slomovitz, D., Iuzzolino, R., Yasuda, E., Trigo, L., de Souza, R. M., Laiz, H., Debatin, R. M., Afonso, E., Brazilian Congress on Metrology, 9
Publicado 2018

Actualización del hardware y software de un interferómetro para la calibración interferométrica de bloques patrón

por Giarmana, G., Iuzzolino, R., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12
Publicado 2015

Evaluación de las incertidumbres de medición del sistema Josephson del INTI

por Iuzzolino, R., Melo, J., Laiz, H., Tischler, M., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, investigación aplicada, precompetitivo
Publicado 2002

Desarrollo de una llave de conmutación automática para la comparación de resistores patrones

por Boaglio, C., Laiz, H., Iuzzolino, R., Melo, J., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo tecnológico, precompetitivo
Publicado 2002

Desarrollo de un microvoltímetro vectorial

por Iuzzolino, R., Laiz, H., García, R., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, INTI-Física. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo tecnológico, precompetitivo
Publicado 2002

Divisor inductivo binario controlado por computadora

por Iuzzolino, R., García, R., Laiz, H., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, INTI-Física. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo tecnológico, precompetitivo
Publicado 2002

Bilateral Comparison of 1.018 V and 10 V Standards between the INTI (Argentina) and the BIPM, August to October 2009 (part of the ongoing BIPM key comparison BIPM.EM-K11.a and b)

por Bierzychudek, Marcos E., Tonina, Alejandra, Iuzzolino, R., Real, M., Solve, S., Chayramy, R., Stock, M., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Bureau International des Poids et Mesures. BIPM. Sèvres, FR
Publicado 2009