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2por Tischler, M., Layño, P., Giorgio, P., INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación tecnológica, 6, Metrología, desarrollo e innovación
Publicado 2007conferenceObject -
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7por Tischler, M., Giorgio, P., Lehmann, H., INTI-Departamento de Patrones Nacionales de Medida. INTI-DPNM. Buenos Aires, AR, Electrotherm Geraberg, DE, Jornadas de desarrollo e innovación, 3, Instrumentación, control y metrología, precompetitivo, innovación tecnológica
Publicado 2000conferenceObject -
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